国家标准《纳米技术 表面增强拉曼固相基片均匀性测量 拉曼成像分析法》 由TC279(全国纳米技术标准化技术委员会)归口 ,主管部门为中国科学院。
主要起草单位 苏州纳微科技有限公司 、苏州市计量测试院 、苏州大学 、中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所 、中国检验检疫科学研究院 、江苏菲沃泰纳米科技股份有限公司 。
主要起草人 郭清华 、朱建荣 、姚建林 、袁亚仙 、方丹 、姜江 、席广成 、卢荻 、王震 。
GB/T 44075-2024 即将实施
17 计量学和测量、物理现象 |
17.040 长度和角度测量 |
17.040.20 表面特征 |