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国家标准计划《电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第8部分:显微结构的测定方法》由 339-1(工业和信息化部(电子))归口 ,主管部门为工业和信息化部(电子)。 拟实施日期:发布后7个月正式实施。

主要起草单位 中国电子科技集团公司第十二研究所中国电子技术标准化研究院江苏常熟银洋陶瓷器件有限公司

主要起草人 江树儒曹易高永泉翟文斌

目录

项目进度

修订了以下标准

GB/T 5594.8-1985 (全部代替)

电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 显微结构的测定
当前标准计划

20065764-T-339 已发布

电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第8部分:显微结构的测定方法
已发布标准

基础信息

计划号
20065764-T-339
制修订
修订
项目周期
24个月
下达日期
2006-07-05
标准类别
方法
中国标准分类号
L90
国际标准分类号
31-030
31 电子学
31.030 电子技术专用材料
归口单位
工业和信息化部(电子)
执行单位
工业和信息化部(电子)
主管部门
工业和信息化部(电子)

起草单位

起草人

江树儒
曹易
高永泉
翟文斌

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