国家标准《声表面波（SAW）器件用单晶晶片 规范与测量方法》 由TC182（全国频率控制和选择用压电器件标准化技术委员会）归口 ，主管部门为工业和信息化部（电子）。

主要起草单位 中国电子科技集团公司第二十六研究所 、中电科技德清华莹电子有限公司 、天通控股股份有限公司 、北京石晶光电科技股份有限公司 。

主要起草人 石自彬 、贝伟斌 、徐秋峰 、朱中晓 。

本标准修改采用IEC国际标准：IEC 62276:2025。

采标中文名称:声表面波（SAW）器件用单晶晶片 规范与测量方法。