国家标准《声表面波(SAW)器件用单晶晶片规范与测量方法》 由TC182(全国频率控制和选择用压电器件标准化技术委员会)归口 ,主管部门为工业和信息化部(电子)。
主要起草单位 中国电子科技集团公司第二十六研究所 、中国电子科技集团德清华莹电子有限公司 、北京石晶光电科技有限公司 。
主要起草人 张小梅 、蒋春键 、吴兆刚 、吴剑波 、赵雄章 、周洋舟 。
GB/T 30118-2013 现行
20194111-T-339 正在批准
31 电子学 |
31.140 频率控制和选择用压电器件与介质器件 |
本标准修改采用IEC国际标准:IEC 62276:2005。
采标中文名称:声表面波(SAW)器件用单晶晶片规范与测量方法。