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国家标准计划《集成电路电磁抗扰度测量第9部分：辐射抗扰度测量表面扫描法》由 TC599（全国集成电路标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。

主要起草单位中国电子技术标准化研究院。

项目进度

当前标准计划

20214711-T-339 正在审查

集成电路电磁抗扰度测量第9部分：辐射抗扰度测量表面扫描法

基础信息

计划号: 20214711-T-339
制修订: 制定
项目周期: 18个月
下达日期: 2021-12-31

标准类别

方法

国际标准分类号

31.200

31 电子学

31.200 集成电路、微电子学

归口单位

全国集成电路标准化技术委员会

执行单位

全国集成电路标准化技术委员会

主管部门

工业和信息化部（电子）

起草单位

中国电子技术标准化研究院

采标情况

本标准等同采用IEC国际标准：IEC TS 62132-9:2014。

采标中文名称:集成电路电磁抗扰度测量第9部分：辐射抗扰度测量表面扫描法。

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集成电路电磁抗扰度测量第9部分：辐射抗扰度测量表面扫描法

Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity - Part 9: Measurement of radiated immunity-Surface scan method

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集成电路 电磁抗扰度测量 第9部分：辐射抗扰度测量 表面扫描法

Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity - Part 9: Measurement of radiated immunity-Surface scan method

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