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国家标准计划《发光二极管芯片点测方法》由 339-1(工业和信息化部(电子))归口 ,主管部门为工业和信息化部(电子)。 拟实施日期:发布后3个月正式实施。

主要起草单位 三安光电股份有限公司厦门市三安光电科技有限公司中国电子技术标准化研究院广州赛西标准检测研究院有限公司

主要起草人 蔡伟智梁奋刘秀娟李国煌吕艳金威邵晓娟周钢时军朋

目录

项目进度

当前标准计划

20151775-T-339 已发布

发光二极管芯片点测方法

基础信息

计划号
20151775-T-339
制修订
制定
项目周期
24个月
下达日期
2015-08-18
标准类别
方法
中国标准分类号
L45
国际标准分类号
31.260
31 电子学
31.260 光电子学、激光设备
归口单位
工业和信息化部(电子)
执行单位
工业和信息化部(电子)
主管部门
工业和信息化部(电子)

起草单位

起草人

蔡伟智
梁奋
吕艳
金威
时军朋
刘秀娟
李国煌
邵晓娟
周钢

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