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国家标准《高纯镓》由TC203（全国半导体设备和材料标准化技术委员会）归口，TC203SC2（全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会）执行，主管部门为国家标准化管理委员会。

主要起草单位国瑞电子材料有限责任公司、南京金美镓业有限公司。

主要起草人于洪国、邢志国。

目录

标准状态

代替了以下标准

GB/T 10118-1988 （全部代替）

高纯镓

当前标准

GB/T 10118-2009 现行

高纯镓

即将被以下标准替代

GB/T 10118-2023 （全部代替）

高纯镓

基础信息

标准号: GB/T 10118-2009
发布日期: 2009-10-30
实施日期: 2010-06-01
全部代替标准: GB/T 10118-1988

标准类别

产品

中国标准分类号

H66

国际标准分类号

77.150.99

77 冶金

77.150 有色金属产品

77.150.99 其他有色金属产品

归口单位

全国半导体设备和材料标准化技术委员会

执行单位

全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会

主管部门

国家标准化管理委员会

起草单位

国瑞电子材料有限责任公司

南京金美镓业有限公司

起草人

于洪国

邢志国

相近标准(计划)

GB/T 10118-2023 高纯镓

YS/T 38.1-1992 高纯镓化学分析方法钼蓝分光光度法测定硅量

YS/T 38.2-1992 高纯镓化学分析方法化学光谱法测定锰、镁、铬和锌量

YS/T 474-2021 高纯镓化学分析方法痕量元素的测定电感耦合等离子体质谱法

YS/T 38.3-1992 高纯镓化学分析方法化学光谱法测定铅、镍、锡和铜量

YS/T 474-2005 高纯镓化学分析方法　痕量元素的测定　电感耦合等离子体质谱法

YS/T 38.1-2009 高纯镓化学分析方法第1部分：硅量的测定钼蓝分光光度法

YS/T 38.3-2023 高纯镓化学分析方法第3部分：痕量杂质元素含量的测定辉光放电质谱法

YS/T 38.2-2009 高纯镓化学分析方法第2部分：镁、钛、铬、锰、镍、钴、铜、锌、镉、锡、铅、铋量的测定电感耦合等离子体质谱法

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