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薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法

Method of thickness measurement for thin crystal by convergent beam electron diffraction
国家标准 推荐性 废止

国家标准《薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法》 由TC38（全国微束分析标准化技术委员会）归口 ，主管部门为国家标准委。

主要起草单位 北京科技大学 。

主要起草人 柳得橹 。

目录

标准状态

  1. 发布
  2. 实施
  3. 废止
当前标准

GB/T 20724-2006 废止

薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法
被以下标准替代

GB/T 20724-2021 （全部代替）

微束分析 薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法

基础信息

标准号
GB/T 20724-2006
发布日期
2006-12-25
实施日期
2007-08-01
废止日期
2022-07-01
标准类别
方法
中国标准分类号
N53
国际标准分类号
71.040.99
71 化工技术
71.040 分析化学
71.040.99 有关分析化学的其他标准
归口单位
全国微束分析标准化技术委员会
执行单位
全国微束分析标准化技术委员会
主管部门
国家标准委

起草单位

北京科技大学

起草人

柳得橹

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