国家标准《半导体分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件 测试方法》 由TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口 ，主管部门为工业和信息化部（电子）。
主要起草单位 华禹光谷股份有限公司半导体厂 。
GB/T 15651.3-2003 现行
本标准等同采用IEC国际标准：IEC 60747-5-3:1997。
采标中文名称:。
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