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国家标准《半导体分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件 测试方法》 由TC78(全国半导体器件标准化技术委员会)归口 ,主管部门为工业和信息化部(电子)

主要起草单位 华禹光谷股份有限公司半导体厂

目录

标准状态

当前标准

GB/T 15651.3-2003 现行

半导体分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件 测试方法

基础信息

标准号
GB/T 15651.3-2003
发布日期
2003-11-24
实施日期
2004-08-01
标准类别
方法
中国标准分类号
L50
国际标准分类号
31.260
31 电子学
31.260 光电子学、激光设备
归口单位
全国半导体器件标准化技术委员会
执行单位
全国半导体器件标准化技术委员会
主管部门
工业和信息化部(电子)

采标情况

本标准等同采用IEC国际标准:IEC 60747-5-3:1997。

采标中文名称:。

起草单位

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