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国家标准《光电计算 光脉冲神经元性能测试方法》 由SWG32(全国智能计算标准化工作组)归口 ,主管部门为国家标准委。

主要起草单位 西安电子科技大学 、之江实验室 、北京航天计量测试技术研究所 、华中科技大学 、杭州爱杰光电科技有限公司 、上海曦智科技股份有限公司 、联合微电子中心有限责任公司 、西南交通大学 、苏州大学 、电子科技大学 、甬江实验室 、南通奇波科技有限公司 、中移(苏州)软件技术有限公司 。

主要起草人 项水英 、张萌 、虞绍良 、张雅慧 、李振廷 、冯宇祥 、郭星星 、王忠新 、董建绩 、周治平 、于山山 、李强 、张力月 、李念强 、江宁 、施跃春 、田野 、张强 、黄于 、方英俊 、杨毅 、郭良帅 。

目录

标准状态

当前标准

GB/Z 276-2026 现行

光电计算 光脉冲神经元性能测试方法

基础信息

标准号
GB/Z 276-2026
发布日期
2026-09-24
标准计划
20253158-Z-469
标准类别
方法
中国标准分类号
L50
国际标准分类号
01.040.35
01 综合、术语学、标准化、文献
01.040 词汇
01.040.35 信息技术、办公机械设备(词汇)
归口单位
全国智能计算标准化工作组
执行单位
全国智能计算标准化工作组
主管部门
国家标准委

起草单位

起草人

项水英
张萌
李振廷
冯宇祥
董建绩
周治平
张力月
李念强
田野
张强
杨毅
郭良帅
虞绍良
张雅慧
郭星星
王忠新
于山山
李强
江宁
施跃春
黄于
方英俊

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