国家标准《集成电路 电磁发射测量 第3部分：辐射发射测量 表面扫描法》 由TC599（全国集成电路标准化技术委员会）归口 ，主管部门为工业和信息化部（电子）。

主要起草单位 中国电子技术标准化研究院 、北京智芯微电子科技有限公司 、海研芯（青岛）微电子有限公司 、扬芯科技（深圳）有限公司 、厦门海诺达科学仪器有限公司 、中国合格评定国家认可中心 、天津先进技术研究院 、工业和信息化部电子第五研究所 、浙江大学 、南京容向测试设备有限公司 、北京航空航天大学 、北京国家新能源汽车技术创新中心有限公司 、中山大学 、深圳市中兴微电子技术有限公司 、河南省电子信息产品质量检验技术研究院 、江苏省质量和标准化研究院 、中国信息通信研究院 、南京师范大学 、中家院（北京）检测认证有限公司 、深圳硅山技术有限公司 。

主要起草人 崔强 、龙跃 、付君 、阎照文 、褚瑞 、方文啸 、吴建飞 、杨红波 、王新才 、朱赛 、张学磊 、陈梅双 、刘佳 、梁吉明 、邵伟恒 、魏兴昌 、沈学其 、雷黎丽 、龙发明 、谢利涛 、杨博 、王紫任 、颜伟 、王芳 、韦寿德 。

本标准等同采用IEC国际标准：IEC TS 61967-3:2014。

采标中文名称:集成电路 电磁发射测量 第3部分：辐射发射测量 表面扫描法。