国家标准计划《量子精密测量用超高反射率光学薄膜性能表征及测量方法》由 TC578（全国量子计算与测量标准化技术委员会）归口 ，主管部门为国家标准委。

主要起草单位 合肥国家实验室 、中国计量科学研究院 、中国科学院大连化学物理研究所 、同济大学 、中国科学院上海光学精密机械研究所 、清华大学 。