国家标准计划《量子技术 超高反射率光学薄膜性能表征及测量方法》由 TC578（全国量子技术标准化技术委员会）归口 ，主管部门为国家标准委。 拟实施日期：发布后6个月正式实施。

主要起草单位 中国科学技术大学 、合肥国家实验室 、北京大学 、电子科技大学 、成都速派光学技术有限公司 、中国计量科学研究院 、山西大学 、中国计量大学 、北京航天时代激光导航技术有限责任公司 、济南量子技术研究院 、中国科学院上海光学精密机械研究所 、中国科学院大连化学物理研究所 、中国标准化研究院 、埃特曼半导体技术有限公司 、清华大学 、中国人民解放军国防科技大学 、同济大学 、北京理工大学 、深圳长朗智能科技有限公司 、河南省科学院 。

主要起草人 霍永恒 、张熙博 、李斌成 、廖荣 、黄智强 、甘海勇 、胡水明 、孙青 、马维光 、谭爱红 、章光建 、钟东勳 、徐凭 、戴汉宁 、陈宇翱 、王超凡 、王胭脂 、郑耀辉 、邓淞文 、张萌 、周均铭 、王旭光 、郭强强 、颜立新 、彭小强 、张志强 、张锦龙 、张安宁 、李刚 、劳长石 、孙超伟 、徐红星 。