国家标准《宇航用集成电路内引线气相沉积保护膜试验方法》 由TC425(全国宇航技术及其应用标准化技术委员会)归口,TC425SC2(全国宇航技术及其应用标准化技术委员会宇航电子分会)执行 ,主管部门为国家标准委。
主要起草单位 北京微电子技术研究所 、中国航天电子技术研究院 。
主要起草人 赵元富 、姚全斌 、林鹏荣 、冯小成 、荆林晓 、李洪剑 、付明洋 、林建京 、曹燕红 、刘思嘉 、刘征宇 。
GB/T 43227-2023 现行
49 航空器和航天器工程 |
49.040 有关航空航天制造用镀涂和有关工艺 |