国家标准《集成电路 CMOS图像传感器测试方法》 由TC599(全国集成电路标准化技术委员会)归口 ,主管部门为工业和信息化部(电子)。
主要起草单位 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 、重庆光电技术研究所 、天津大学 、长春精测光电技术有限公司 、中国电子技术标准化研究院 、深圳佑驾创新科技有限公司 。
主要起草人 李俊霖 、张涛 、兰太吉 、杨永强 、赵宇 、聂真威 、韩冰 、金辉 、马洪涛 、卢岩 、徐江涛 、刘昌举 、唐延甫 、聂凯明 、李金 、高志远 、马悦 、刘国清 、王琪 、刘秀娟 。
GB/T 43063-2023 现行
31 电子学 |
31.200 集成电路、微电子学 |