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国家标准《集成电路 CMOS图像传感器测试方法》 由TC599(全国集成电路标准化技术委员会)归口 ,主管部门为工业和信息化部(电子)。

主要起草单位 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 、重庆光电技术研究所 、天津大学 、长春精测光电技术有限公司 、中国电子技术标准化研究院 、深圳佑驾创新科技有限公司 。

主要起草人 李俊霖 、张涛 、兰太吉 、杨永强 、赵宇 、聂真威 、韩冰 、金辉 、马洪涛 、卢岩 、徐江涛 、刘昌举 、唐延甫 、聂凯明 、李金 、高志远 、马悦 、刘国清 、王琪 、刘秀娟 。

目录

标准状态

当前标准

GB/T 43063-2023 现行

集成电路 CMOS图像传感器测试方法

基础信息

标准号
GB/T 43063-2023
发布日期
2023-09-07
实施日期
2024-01-01
标准计划
20182264-T-339
标准类别
方法
中国标准分类号
L54
国际标准分类号
31.200
31 电子学
31.200 集成电路、微电子学
归口单位
全国集成电路标准化技术委员会
执行单位
全国集成电路标准化技术委员会
主管部门
工业和信息化部(电子)

起草单位

起草人

李俊霖
张涛
赵宇
聂真威
马洪涛
卢岩
唐延甫
聂凯明
马悦
刘国清
兰太吉
杨永强
韩冰
金辉
徐江涛
刘昌举
李金
高志远
王琪
刘秀娟

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