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国家标准《集成电路 电磁发射测量 第4部分:传导发射测量 1Ω/150Ω直接耦合法》 由TC599(全国集成电路标准化技术委员会)归口 ,主管部门为工业和信息化部(电子)

主要起草单位 中国电子技术标准化研究院深圳市北测标准技术服务有限公司南京容测检测技术有限公司北京智芯微电子科技有限公司工业和信息化部电子第五研究所天津先进技术研究院北京无线电计量测试研究所河南凯瑞车辆检测认证中心有限公司中国科学院微电子研究所安徽省计量科学研究院苏州泰思特电子科技有限公司中国汽车工程研究院股份有限公司广州市诚臻电子科技有限公司江苏省计量科学研究院扬芯科技(深圳)有限公司南京师范大学东南大学重庆仕益产品质量检测有限责任公司广州致远电子有限公司

主要起草人 崔强付君乔彦彬方文啸吴建飞邢立文朱赛刘星汛李腾飞李彬鸿王少启谢玉章胡小军黄雪梅邵鄂李楠周雷杨红波颜伟周香刘洋陈勇志张红丽

目录

标准状态

当前标准

GB/T 44937.4-2024 现行

集成电路 电磁发射测量 第4部分:传导发射测量 1Ω/150Ω直接耦合法

基础信息

标准号
GB/T 44937.4-2024
发布日期
2024-12-31
实施日期
2024-12-31
标准类别
方法
中国标准分类号
L56
国际标准分类号
31.200
31 电子学
31.200 集成电路、微电子学
归口单位
全国集成电路标准化技术委员会
执行单位
全国集成电路标准化技术委员会
主管部门
工业和信息化部(电子)

采标情况

本标准等同采用IEC国际标准:IEC 61967-4:2021。

采标中文名称:集成电路 电磁发射测量 第4部分:传导发射测量 1Ω/150Ω直接耦合法。

起草单位

起草人

崔强
付君
吴建飞
邢立文
李腾飞
李彬鸿
胡小军
黄雪梅
周雷
杨红波
刘洋
陈勇志
乔彦彬
方文啸
朱赛
刘星汛
王少启
谢玉章
邵鄂
李楠
颜伟
周香
张红丽

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