国家标准《电子组件用元器件和零件的晶须试验方法》 由TC47（全国印制电路标准化技术委员会）归口 ，主管部门为工业和信息化部（电子）。

主要起草单位 工业和信息化部电子第五研究所 、江苏展芯半导体技术股份有限公司 、深圳市亿铖达工业有限公司 、佛山市承安集团股份有限公司 、深圳市松柏科工股份有限公司 、中兴通讯股份有限公司 、宁德时代新能源科技股份有限公司 、惠州市德赛西威汽车电子股份有限公司 、中国工程物理研究院 、广东电网有限责任公司广州供电局 、中国电子技术标准化研究院 、珠海杰赛科技有限公司 、广州兴森快捷电路科技有限公司 、北京华创七星微电子股份有限公司 、亿铖达科技（江西）有限公司 。

主要起草人 何骁 、宁敏洁 、洪瑛旭 、周舟 、陈斌 、王世堉 、项永金 、肖国利 、聂富刚 、李其海 、徐立刚 、李伟明 、徐金华 、周建新 、薛超 、乔书晓 、钟成均 、饶猛 、谷海彤 、齐国栋 、张昊然 、李劲军 、王玉 、彭伟 、于长存 、贺光辉 、罗道军 。

本标准修改采用IEC国际标准：IEC 60068-2-82:2019。

采标中文名称:环境试验 第2-82部分：试验 试验Xw1：电子组件用元器件和零件的晶须试验方法。