注册

负责专业范围为光学精密测量技术与仪器。

擅长专业为集成电路IC测量技术与装备、纳米光学测量技术与仪器、精密测量技术与仪器、椭偏测量技术与仪器、薄膜测量方法与应用、光学成像理论与应用。