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标准样品《超声显微扫查系统硅片校准试块标准样品》由 TC118 (全国标准样品技术委员会)归口 ,由北京理工大学负责研制 。

项目进度

基础信息

项目编号
S2019255
研/复制
研制
状态
正在研制
归口单位
全国标准样品技术委员会
执行单位
全国标准样品技术委员会

研/复制单位