《成像衍射光学元件衍射效率的测量方法》由TC487（全国光电测量标准化技术委员会）归口上报及执行，主管部门为中国科学院。

随着对光学系统的要求越来越高，传统技术已无法满足要求，而衍射光学元件由于其独特的成像性质可以满足更高的需求，实现简化光学系统结构、缩小体积、减轻重量和提高光学成像质量。

衍射效率直接影响含衍射光学元件光学系统的成像质量，是评价衍射光学元件设计和加工的重要指标。

因此，成像衍射光学元件衍射效率的准确测量十分必要。

国际上尚未建立起成像衍射光学元件衍射效率测量的规范化和标准化方法。

目前国内外关于成像衍射光学元件的研究主要集中在色散、温度特性、设计方法等方面，衍射效率测量相关的研究较少。

国外主要有美国林肯实验室、法国汤姆逊半导体公司、日本佳能公司等对此开展研究，其中汤姆逊公司测量了长波红外波段成像衍射光学元件的衍射效率，其余只研究了成像衍射光学元件的设计理论和应用。

国内主要有长春理工大学、北京理工大学、浙江大学等对此开展研究。

1996年本项目建议人所在项目组首次提出了成像衍射光学元件衍射效率测量的原理性方法并据此搭建了测量平台，完成了长焦距成像二元光学系统衍射效率的测量。

在国家自然科学基金项目的支持下，项目组进一步完善了测量平台并提出了测量结果的分析方法，有效地提高了测量精度。

通过该测量平台首次对可见光波段多层衍射光学元件的衍射效率进行测量。

本标准将在国际上首次建立起成像衍射光学元件衍射效率的测量标准，规范成像衍射光学元件衍射效率的测量过程，为成像衍射光学元件的质量评价提供客观依据。

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