《超导条带光子探测器 暗计数率》由TC265（全国超导标准化技术委员会）归口上报及执行，主管部门为中国科学院。

超导纳米线单光子探测器是一类重要的超导电子学器件，性能明显优于传统的半导体单光子探测器，有力推动了量子信息等领域的科技发展。

经过15年时间发展，国内外有20余家科研单位开展相关研究工作，且已经有6家小型高科技公司进行产业化工作。

超导纳米线单光子探测器的标准化不仅有利于科研界，也有利于未来的行业应用。

本标准针对超导纳米线单光子探测器的噪声参数—暗计数率开展标准化工作。

提案内容涉及暗计数和暗计数率的定义、探测模块与系统描述、暗计数率的测试方法等内容。

希望通过这个提案完成超导纳米线单光子探测器暗计数率的定义与测试标准化工作。

IEC标准中IEC 61788-22-1列出了很多种超导电子器件，包括超导纳米线单光子探测器。

作为一种光子探测器，通常有一些关键参数用于表征其性能，如暗计数率等。

对这些性能参数及相应测量方法进行标准化很有必要。

然而，目前对于光子探测器没有可用的国际标准，甚至包括半导体光电倍增管（PMT）和雪崩光电二极管（APD）这两种半导体光子探测器都没有可用的标准。

在国内，超导纳米线单光子探测器作为一种新兴光子探测器，虽然发展迅速，但也并没有与之对应的国家标准。

该项目的国际标准NP已于2018年10月在IEC/TC90投票通过。项目名称为：Superconducting (nano)strip photon detector – dark count rate；项目编号为：IEC 61788-22-3。项目负责人尤立星研究员于2018年11月1日在西雅图主持召开了第一次工作组会议，并启动了第一轮循环比对试验。目前已经取得第一轮试验的数据，第二轮试验正在筹备中，在2019年10月10日的北京工作会议上做了详细介绍。目前CD稿已经提交给IEC/TC90。