《纳米技术 半导体纳米粉体材料紫外-可见漫反射光谱的测试方法》由TC279（全国纳米技术标准化技术委员会）归口上报及执行，主管部门为中国科学院。

紫外-可见漫反射光谱是研究半导体纳米粉体材料光学性质的重要表征方法。

通过该方法可获得材料的光吸收特性、带隙宽度、表面吸附情况、粉体间的相互作用等信息。

因此，制定半导体纳米粉体材料紫外-可见漫反射光谱相关标准方法，有利于推进并规范半导体纳米粉体材料科学研究及产业应用，保证我国半导体纳米粉体材料在各领域的可持续发展。

而且，目前国际上尚无相关标准，将《纳米技术 半导体纳米粉体材料紫外-可见漫反射光谱的测试方法》外文版，有利于推动国际间半导体纳米粉体材料测试的统一，数据可比、数据互认，保证相关产品贸易利益和应用推广。