《纳米技术 贵金属纳米颗粒电子显微镜成像 高角环形暗场法》由TC279（全国纳米技术标准化技术委员会）归口上报及执行，主管部门为中国科学院。

自从20世纪90年代以来，随着电子显微镜硬件的发展，尤其是场发射透射电子显微镜的出现和普及，高角环形暗场成像技术在材料微观分析方面日益受到重视，成为当代电子显微术发展的新领域。

由于其图像衬度与原子序数密切相关，在贵金属纳米颗粒的表征方面，越来越多的人开始使用这一成像技术来分析颗粒形貌、尺寸、团聚情况、均匀性及分布等。

为了规范这一方法的使用，2017年发布了“GB/T 34831-2017 纳米技术 贵金属纳米颗粒电子显微镜成像 高角环形暗场法”这一国家标准，填补了国内这一领域的空白。

但是目前国外尚没有相关标准。

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