《纳米技术 开尔文探针力显微术 第1部分：表面电势测量》由TC279（全国纳米技术标准化技术委员会）归口上报，TC279SC2（全国纳米技术标准化技术委员会纳米检测技术分会）执行，主管部门为中国科学院。
开尔文探针力显微镜法测量纳米材料表面电势的需求，在国内表现为紧跟国际前沿、服务于国家重大战略需求和快速发展的新兴产业；在国外则表现为依托成熟产业链，持续引领技术创新和深化应用。
无论是国内还是国外，该技术都是推动未来高科技产业（尤其是半导体、新能源和信息产业）发展的关键基础设施之一，需求前景广阔。
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