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《表面化学分析深度剖析 X射线光电子能谱法确定硅与氧化硅界面》由TC608（全国表面化学分析标准化技术委员会）归口上报及执行，主管部门为中国科学院。

目录

基础信息

标准编号: 20262154-T-491
计划下达日期: 2026-04-28
项目周期: 与中文国家标准项目周期一致

归口单位: 全国表面化学分析标准化技术委员会
执行单位: 全国表面化学分析标准化技术委员会
主管部门: 中国科学院

翻译承担单位

季华实验室

中国计量科学研究院

北京师范大学

广东工业大学

中国科学院化学研究所

北京化工大学

国内外简要情况说明

目前国内外还未有针对层结构样品界面测定的规范。

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