《太阳能电池用硅片翘曲度和波纹度测试方法》由TC203（全国半导体设备和材料标准化技术委员会）归口上报，TC203SC2（全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会）执行，主管部门为国家标准委。

太阳能电池用硅片是一种由高纯度硅材料制成的薄片，因其优异的物理和电学性能，被广泛应用于多个高科技领域，如光伏发电、半导体芯片制造及其它高科技应用。

太阳能电池用硅片翘曲度和波纹度是影响硅片电池效率和生产良率的关键参数。

硅片翘曲度是指硅片整体平面度的偏离程度，通常由应力不均匀或加工缺陷导致。

硅片波纹度是指硅片表面周期性或局部微小起伏的粗糙度，通常由切割或抛光工艺缺陷引起。

中国是全球最大的光伏生产基地，硅片产能占全球90%以上。

隆基绿能、TCL中环、晶科能源、晶澳科技及协鑫科技等企业占据主导地位，合计产能占比超70%。

海外产能主要集中在东南亚（越南、马来西亚）和少量欧美地区，受制于成本、技术和政策限制，国际产量仅占全球的5%-10%。

随着光伏行业对高效电池、薄片化和大尺寸硅片需求的持续增长，国内外对硅片高精度检测技术的需求显著提升。

目前太阳能电池用硅片薄片化趋势（从150μm向100μm以下发展）和大尺寸硅片（210mm+）对翘曲度和波纹度检测提出更高的要求。

高效电池技术（如TOPCon、HJT及BC）需要更高的硅片质量，以降低电池端的碎片率和提升转换效率。

传统接触式测量技术逐渐被非接触式光学检测替代，以满足高速、高精度的检测需求。