国家标准计划《红外焦平面阵列参数测试方法》由 339-1(工业和信息化部(电子))归口 ,主管部门为工业和信息化部(电子)。
主要起草单位 中国科学院上海技术物理研究所 。
主要起草人 丁瑞军 、梁平治 、唐红兰 、陈洪雷 、曹妩媚 、殷建军等 。
GB/T 17444-1998 (全部代替)
20064720-T-339 已发布
GB/T 17444-2013