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国家标准计划《集成电路 CMOS图像传感器测试方法》由 TC599(全国集成电路标准化技术委员会)归口 ,主管部门为工业和信息化部(电子)。 拟实施日期:发布后3个月正式实施。

主要起草单位 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所重庆光电技术研究所天津大学长春精测光电技术有限公司中国电子技术标准化研究院深圳佑驾创新科技有限公司

主要起草人 李俊霖张涛兰太吉杨永强赵宇聂真威韩冰金辉马洪涛卢岩徐江涛刘昌举唐延甫聂凯明李金高志远马悦刘国清王琪刘秀娟

目录

项目进度

当前标准计划

20182264-T-339 已发布

集成电路 CMOS图像传感器测试方法
已发布标准

基础信息

计划号
20182264-T-339
制修订
制定
项目周期
24个月
下达日期
2018-11-02
标准类别
方法
中国标准分类号
L54
国际标准分类号
31.200
31 电子学
31.200 集成电路、微电子学
归口单位
全国集成电路标准化技术委员会
执行单位
全国集成电路标准化技术委员会
主管部门
工业和信息化部(电子)

起草单位

起草人

李俊霖
张涛
赵宇
聂真威
马洪涛
卢岩
唐延甫
聂凯明
马悦
刘国清
兰太吉
杨永强
韩冰
金辉
徐江涛
刘昌举
李金
高志远
王琪
刘秀娟

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