国家标准计划《电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第4部分:介电常数和介质损耗角正切值的测试方法》由 339-1(工业和信息化部(电子))归口 ,主管部门为工业和信息化部(电子)。 拟实施日期:发布后7个月正式实施。
主要起草单位 中国电子科技集团公司第十二研究所 、中国电子技术标准化研究院 、北京七星飞行电子有限公司 。
主要起草人 曾桂生 、李晓英 、薛晓梅 。
GB/T 5594.4-1985 (全部代替)
20065762-T-339 已发布
| 31 电子学 |
| 31.030 电子技术专用材料 |