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国家标准计划《晶体硅光伏组件 光热诱导衰减(LETID)试验 检测》由 TC90(全国太阳光伏能源系统标准化技术委员会)归口 ,主管部门为工业和信息化部(电子)

主要起草单位 常熟阿特斯阳光电力科技有限公司中国电子技术标准化研究院阿特斯阳光电力集团股份有限公司

目录

基础信息

计划号
20231868-Z-339
制修订
制定
项目周期
16个月
下达日期
2023-12-28
公示开始日期
2023-10-30
公示截止日期
2023-11-29
标准类别
方法
国际标准分类号
27.160
27 能源和热传导工程
27.160 太阳能工程
归口单位
全国太阳光伏能源系统标准化技术委员会
执行单位
全国太阳光伏能源系统标准化技术委员会
主管部门
工业和信息化部(电子)

起草单位

采标情况

本标准等同采用IEC国际标准:IEC TS 63342:2022。

采标中文名称:晶体硅光伏(PV)组件 光致热诱导衰减(LETID)试验 检测。

范围和主要技术内容

范围:本文件规定了地面用晶体硅光伏组件热辅助光致衰减测试,包括术语和定义、仪器装置、样品、测试步骤、结果处理和报告等内容。本文件适用于地面用晶体硅光伏组件热辅助光致衰减测试方法。 主要技术内容:组件完成硼氧预处理后,将组件置于75℃的环境试验箱中,并用直流电源通以弱电流,待组件进入复原阶段可停止电注入。检查外观、测试IV性能、EL,并分析LeTID功率损失。