国家标准计划《晶体硅光伏组件 光热诱导衰减（LETID）试验 检测》由 TC90（全国太阳光伏能源系统标准化技术委员会）归口 ，主管部门为工业和信息化部（电子）。

主要起草单位 常熟阿特斯阳光电力科技有限公司 、中国电子技术标准化研究院 、阿特斯阳光电力集团股份有限公司 。

本标准等同采用IEC国际标准：IEC TS 63342:2022。

采标中文名称:晶体硅光伏(PV)组件 光致热诱导衰减（LETID）试验 检测。

目的：光致衰减与再生恢复是光伏行业比较关注的热点。

实证基地的研究结果表明，炎热气候条件下的功率衰减问题不可忽视。

此外高功率组件带来更高的组件工作温度，也会加剧LeTID的发生。

此前业界对LID问题认识不足，采用的测试温度较低，该项标准目的在于揭示组件的高温衰减风险。

意义：目前，工业界和学术界对LeTID机理和影响的研究积累了一些实际经验。

但是目前国内缺乏统一的技术规范来指导光伏组件LeTID的测试。

各组件厂商在LeTID的管理模式、技术成熟度、资源投入等方面存在较大差异，质量管理风险不一。

此外，不同原理或不同技术参数的LeTID测试方法，使最终测试结果存在差异，形成一定技术风险。

因此随着光伏行业技术的更新，测试标准及关键技术指标均需要同步调整，这已成为行业面临的共性问题，对于促进产业结构调整，实现行业可持续发展具有积极意义。

范围：本文件规定了地面用晶体硅光伏组件热辅助光致衰减测试，包括术语和定义、仪器装置、样品、测试步骤、结果处理和报告等内容。本文件适用于地面用晶体硅光伏组件热辅助光致衰减测试方法。 主要技术内容：组件完成硼氧预处理后，将组件置于75℃的环境试验箱中，并用直流电源通以弱电流，待组件进入复原阶段可停止电注入。检查外观、测试IV性能、EL，并分析LeTID功率损失。