国家标准计划《无损检测 超声检测 2号校准试块》由 TC56（全国无损检测标准化技术委员会）归口 ，主管部门为国家标准委。

主要起草单位 上海材料研究所等 。

本标准等同采用ISO国际标准：ISO 7963:2022。

采标中文名称:无损检测 超声检测 2号校准试块。

超声检测是五大常规无损检测方法之一，是利用超声波在弹性介质中传播，在界面上能发生反射、折射、衍射等特性，通过对超声波受影响程度和状况的探测，来了解材料内部或表面缺陷的检测方法。

超声检测广泛应用于特种设备、轨道交通、能源电力、钢铁冶金、航天航空、核电等领域，是评价工程材料、零部件和产品完整性、连续性的重要手段，也是实现质量管理、节约原材料、改进工艺、提高劳动生产率的重要手段，是产品制造与维修中不可缺少的组成部分。

超声检测试块是超声检测的重要装备。

在超声检测过程中，通过仪器屏幕上回波的位置、高度、波形的静态和动态变量来表征被检材料或工件质量优劣的。

然而，这些变量与缺陷之间的声学关系十分复杂，同时，还存在着仪器和探头、材料或工件材质、耦合条件等多种影响因素。

所以不能仅仅靠调节超声检测仪器上的按钮和简单的计算结果来完成对缺陷的定性、定量和定位等任务，而是需要采用仪器输出变量与已知简单形状试块的相应位置的已知信号进行比较的方法来进行评定。

因此，超声检测试块在超声检测过程中具有重要的作用。

例如：（1）确定检测灵敏度。

检测灵敏度是超声检测仪器和探头的综合指标。

超声波检测灵敏度太高或太低都不好，太高杂波多，判伤困难，太低会引起漏检。

因此在超声波检测前，常用试块上某一特定的人工反射体来调整检测灵敏度。

（2） 测试仪器和探头的性能。

超声波探伤仪和探头的一些重要性能。

如垂直线性、水平线性、动态范围、灵敏度余量、分辨力、盲区、探头人射点、K值等都是利用试块来测试的。

（3）调整扫描速度。

利用试块可以调整仪器示波屏上水平刻度值与实际声程之间的比例关系（即扫描速度），以便对缺陷进行定位。

（4）评判缺陷的大小。

利用某些试块绘出的距离-波幅-当量曲线（即实用AVG)来给缺陷定量是目前常用的定量方法之一。

此外还可利用试块来测量材料的声速、衰减性能等。

随着现代科学技术的不断发展应用，超声检测试块也需要不断更新发展理念，及时调整检测试块要求，使超声检测技术能够符合国际国内发展需要，与时俱进。

与此同时，相应超声检测试块国家标准也需要及时更新，用标准引领超声检测行业发展。

GB/T 19799.2-2012等同采用ISO 7963：2006《无损检测 超声检测 2号校准试块》。

该ISO标准在2006年之后，于2022年经历了一次修订，目前最新版是2022修订版。

而GB/T 19799.2-2012从2012年后一直没有进行修订，已经满足不了目前超声检测技术发展需要。

ISO 7963：2022相比ISO 7963：2006的内容，做出了很大的调整：（1）更改了2号校准试块刻度槽长度，增加了试块角度标识规定；（2）修改了试块制备时机加工、热处理和表面处理规定，增加了试块的机加工、热处理后的超声检测、试块内部晶粒和缺陷允许尺寸要求；（3）修改了设置灵敏度时应考虑的因素规定。

这些都是适应超声检测技术目前发展情况而做出的调整，也是进一步规范和稳定试块质量，做出了更加细致的可考核的一致性规定。

国内超声检测技术发展较快。

但相应的超声检测试块国家标准GB/T 19799.2-2012，已经使用十年之久，影响超声检测技术在国内的更新发展，现需将该标准里面的内容进行更新，重新采用新的国际标准ISO 7963：2022，更新里面的新的技术内容，保持与国际技术的接轨，保证国内超声检测的技术先进性。

为此，非常有必要提出ISO 7963：2022《无损检测 超声检测 2号校准试块》采标立项申请。

本标准的修订，是对超声检测标准体系的进一步完善与规范，使超声检测行业形成一套完整的超声检测标准体系。

同时，通过标准来规范行业，促进国内各大型企业对超声检测的工艺质量进行改进与完善，建立良好有效的超声检测工艺控制体系，并进行进一步的完善。

本文件规定了2号校准试块的尺寸、材料、制造，以及用它对超声检测设备进行校准和校验的使用方法。 本文件代替GB/T 19799.2—2012《无损检测 超声检测 2号校准试块》，与 GB/T 19799.2—2012 相比，除结构调整和编辑性改动外，主要技术变化如下： a) 更改了规范性引用文件（见第2章，2012年版的第2章）； b) 更改了2号校准试块刻度槽长度，增加了试块角度标识规定（见4.2，2012年版的第4章）； c) 增加了半成品试块的制备要求，增加了试块在最终机加工之前进行超声检测和声速测定的要求，更改了试块机加工、热处理和表面处理规定（见4.3，2012版的第6章）； d) 增加了图2、图3、图4、图5和图6的说明，增加了图3和图6的刻度尺的分度值（见第5章，2012版的第8章）； e) 更改了时基线设定的调节要求（见5.1，2012年版的8.1）； f） 删除了附录A（见2012年版的附录A）。