国家标准计划《半导体器件 恒流电迁移试验》由 TC78(全国半导体器件标准化技术委员会)归口 ,主管部门为工业和信息化部(电子)。 拟实施日期:发布后3个月正式实施。
主要起草单位 工业和信息化部电子第五研究所 、西安电子科技大学 、中国电子科技集团公司第十三研究所 、深圳市威兆半导体股份有限公司 、深圳市诚芯微科技股份有限公司 、广东工业大学 、中绍宣标准科技集团有限公司 、深圳市天成照明有限公司 。
主要起草人 章晓文 、林晓玲 、游海龙 、周斌 、尹丽晶 、贺致远 、来萍 、张战刚 、雷登云 、王铁羊 、孟苓辉 、陈义强 、彭浩 、李伟聪 、曹建林 、崔从俊 、林坚耿 。
20213171-T-339 正在批准
31 电子学 |
31.080 半导体分立器件 |
31.080.01 半导体分立器件综合 |
本标准等同采用IEC国际标准:IEC 62415:2010。
采标中文名称:半导体器件 恒流电迁移试验。