国家标准计划《微机电系统(MEMS)技术 基于光学干涉的MEMS微结构应变梯度测量方法》由 TC336(全国微机电技术标准化技术委员会)归口 ,主管部门为国家标准委。 拟实施日期:发布后6个月正式实施。
主要起草单位 中机生产力促进中心 、天津大学 、国家仪器仪表元器件质量监督检验中心 、中国电子科技集团公司第十三研究所 、南京理工大学 。
主要起草人 胡晓东 、郭彤 、程红兵 、于振毅 、李海斌 、崔波 、朱悦 、裘安萍 。
20120467-T-469 已发布
| 31 电子学 |
| 31.200 集成电路、微电子学 |