国家标准项目《宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试方法》由 TC425（全国宇航技术及其应用标准化技术委员会）归口，TC425SC2（全国宇航技术及其应用标准化技术委员会宇航电子分会）执行 ，主管部门为国家标准委。

主要起草单位 北京微电子技术研究所 。

本项标准项目，针对单粒子软错误时域测试方法进行研究，规定了宇航单粒子软错误时域测试的试验要求，包括试验目的、试验原理、试验方法和试验程序等相关内容，形成的标准适用于存储电路、数字电路和数模混合电路的单粒子软错误测试。本项目的主要技术内容包括： 1、单粒子软错误时域测试方法依据 重点研究单粒子瞬态、单粒子翻转、单粒子功能错误在电路输出状态上的表现差异，分析在时域上区分不同效应的测试方法，在单粒子试验系统方面增加软错误判别、时域标记等功能。 在调研的基础上，分别针对三种软错误效应制订判据标准，明确试验系统的时域标记信息的格式和要求，规范化定义试验结果获得的跃变值、软错误数等信息的统计方式。 2、单粒子软错误时域测试程序 研究现有单粒子试验流程在单粒子软错误捕获、识别和区分上存在的不足，重点针对“片式”、“链式”等特殊软错误的时域特性，制定试验结果获取和数据处理程序。 在传统单粒子试验流程基础上，进一步优化制定试验注量率选取、通信传输速率条件、单粒子软错误事件与错误数、软错误跃变统计数等具体细节方面的程序。 3、单粒子软错误时域分析方法 获取单粒子软错误试验结果后，需要制定一套时域分析方法，从软错误数、事件数中形成对试验电路软错误加固性能、加固有效性、敏感节点位置的评估结果。 通过绘制单粒子软错误总数、单粒子事件次数的时域变化曲线，获得跃变值、斜率值等指标来评价电路软错误性能。