国家标准项目《贵金属键合丝热影响区长度测定 扫描电镜法》由 TC243（全国有色金属标准化技术委员会）归口，TC243SC5（全国有色金属标准化技术委员会贵金属分会）执行 ，主管部门为中国有色金属工业协会。

主要起草单位 贵研铂业股份有限公司 。

此标准适用于直径50μm以下的各种含金、银的贵金属键合丝热影响区长度的测量，扩大了贵金属键合丝热影响区长度可测的直径范围(传统金相法已无法满足直径30μm以下的键合丝热影响区长度测量)。 该标准的主要内容是：键合丝纵截面制样技术和热影响区判定方法及长度的测量。其中制样技术采用先进的聚焦离子束（FIB）法，该方法无需镶嵌、磨抛，制样时间短、且成功率高，采用双束或多束扫描电镜上的聚焦离子束模块来切割并抛光试样，从而制备出超细键合丝的纵截面，再通过离子束成像技术，获得明显衬度的键合丝晶粒组织图像。技术规范主要包含离子束诱导沉积、粗切、精切和成像的参数设置，电压、电流的选择等。 热影响区的测量方法采用图片定性与曲线定量两种方法。其中图片定性是初步判定并直接测量的方法，根据键合丝纵截面组织球颈端沿长度方向的晶粒形状和大小的变化，将截面组织划分为完全热影响区、部分热影响区和未受影响区组织。热影响区长度包括完全热影响区和部分热影响区长度之和。用扫描电镜自带测量工具直接测量热影响区长度，并取平均值，作为该样品热影响区长度最终结果。热影响区长度的测量及数据处理可参考GB/T16594-2008《微米级长度的扫描电镜测量方法通则》来进行。另一种是截线定量测定法。以球颈端为起点，沿直径方向作不小于直径长度的直线，记录该直线与晶界的截点数，沿长度方向以固定步长作不小于直径长度的平行线，并记录每条直线与晶界的截点数。统计沿丝长度方向截点数变化曲线，必然呈逐渐上升并稳定较高水平，当曲线斜率刚好为零时所对应的横坐标即确定为热影响区长度。