国家标准《无损检测 工业射线计算机层析成像检测 第1部分：原理、设备和样品》 由TC56（全国无损检测标准化技术委员会）归口 ，主管部门为国家标准委。

主要起草单位 清华大学 、中国兵器科学研究院宁波分院 、北京固鸿科技有限公司 、上海材料研究所 、重庆大学 、重庆真测科技股份有限公司 、湖北三江航天江北机械工程有限公司 、航天智造(上海)科技有限责任公司 、中信戴卡股份有限公司 、上海奕瑞光电子科技股份有限公司 。

主要起草人 肖永顺 、乔日东 、叶青 、蒋建生 、王珏 、丁杰 、蔡玉芳 、齐子诚 、运明华 、王晓勇 、徐国珍 、刘军 、杨龙 。

本标准等同采用ISO国际标准：ISO 15708-2:2017。

采标中文名称:无损检测 射线计算机层析成像检测 第2部分：原理、设备和样品。