国家标准项目《纳米制造 关键控制特性 发光纳米材料 第3部分：使用时间相关单光子计数技术测定半导体量子点的荧光寿命》由 TC279（全国纳米技术标准化技术委员会）归口 ，主管部门为中国科学院。

主要起草单位 中国计量大学 、国家纳米科学中心 、武汉珈源量子点技术有限公司 、北京北达聚邦科技有限公司 。

本标准等同采用IEC国际标准：IEC TS 62607-3-3:2020。

采标中文名称:纳米制造-关键控制特性-第3-3部分: 发光纳米材料 半导体量子点荧光寿命的测定：时间相关单光子计数法。

范围：利用时间相关单光子计数技术（TCSPC）测量从皮秒到纳秒范围半导体量子点的荧光寿命。本文件适用于稳定分散的量子点液体样品，不适用于固体样品。 主要技术内容：包括实验操作程序、数据处理和试验示例等。