国家标准计划《集成电路 电磁发射测量 第8部分：辐射发射测量 带状线法》由 TC599（全国集成电路标准化技术委员会）归口 ，主管部门为工业和信息化部（电子）。

主要起草单位 中国电子技术标准化研究院 。

本标准等同采用IEC国际标准：IEC 61967-8:2011。

采标中文名称:集成电路 电磁发射测量 第8部分：辐射发射测量 带状线法。

本标准的目的是规定用带状线法测量集成电路的辐射发射。

其意义在于为集成电路的辐射电磁发射测量提供了测量依据，从而可以从集成电路的角度控制辐射电磁发射、提高整机的EMC性能，为考核和提高我国集成电路产品的电磁兼容性提供了依据和可能。

本部分的测量程序定义了一种使用带状线在频率范围150 kHz～3GHz测量集成电路（IC）电磁辐射发射的方法。被评估IC安装在IC带状线结构的有源导体和接地平面之间的EMC试验板（PCB）上。