国家标准计划《洁净室及相关受控环境 第3部分：检测方法》由 TC319（全国洁净室及相关受控环境标准化技术委员会）归口 ，主管部门为国家标准委。

主要起草单位 吴江市华宇净化设备有限公司 、中国标准化协会等 。

本标准等同采用ISO国际标准：ISO 14644-3:2019。

采标中文名称:洁净室及相关受控环境 第3部分：检测方法。

洁净室及相关受控环境是将污染物控制在合适的水平，以便完成对污染敏感的工作。

航天、微电子、制药、医疗器械、食品、医疗等行业的产品和工艺受益于对空气污染的控制。

洁净室的分级、建造、检测、应用是系统性工程，目的是应用，检测是对洁净室工程建设和使用过程中是否达到要求的证明。

随着洁净室应用的日益广泛，相关高新技术的发展对工作环境的要求越来越高，对洁净室及相关受控环境的检测要求越来越高。

GB/T25915.3《洁净室及相关受控环境 第3部分：检测方法》国家标准等同采用的ISO14644-3国际标准为各方发展需要进行了修订并于2019年发布。

随着我国经济持续发展，技术水平不断提高，我国洁净室及相关受控环境处于快速发展阶段，我国的洁净室使用和在建面积均是世界首位，对洁净室及相关受控环境的检测要求日益提高。

修订该国家标准迫在眉睫。

本标准使用与洁净室和洁净区操作的检测，主要技术内容是测试规程和测试报告的要求。本次修订调整内容如下： a) 第3章术语和定义 ——修改术语“离散粒子计数器”为“光散射离散粒子计数器”（见3.6.4，2010年版3.6.8）；——增加了“受控环境”（见3.1.3）“分辨率”（见3.1.6）“灵敏度”（见3.1.7）和“配有流量计的风量罩” （见3.6.3）； ——删除了“大粒子”（见2010年版3.2.4）“M描述符”（见2010年版3.2.5）“U描述符”（见2010年版3.2.11）“超微粒子”（见2010年版3.2.12）“标准渗漏透过率”（见2010年版3.3.10）“平均风量”（见2010年版3.4.2）“非等动力采样”（见2010年版3.6.2）“串级撞击采样器”（见2010年版3.6.3）“凝聚核计数器”（见2010年版3.6.4）“计数效率”（见2010年版3.6.5）“微分迁移率分析仪”（见2010年版3.6.6）“扩散元件”（见2010年版3.6.7）“伪计数”（见2010年版3.6.9）“风量罩”（见2010年版3.6.10）“同轴采样”（见2010年版3.6.11）“等动力采样”（见2010年版3.6.12）“粒径限制器”（见2010年版3.6.13）“阈值粒径”（见2010年版3.6.14）“飞行时间粒径测量”（见2010年版3.6.15）和“虚拟撞击器”（见2010年版3.6.16）； b) 更改了“必测项目”为“一般检测”，并更新了具体内容（见4.1.1，2010年版4.1.1）； c) 更改了“可选检测项目”为“支持性检测”，并更新了检测项目（见表2，2010年版表2）； d) 更改了空气压差检测（见4.2.1，2010年版4.2.3）、气流检测（见4.2.2，2010年版4.2.2）、气流方向检测与显形检查（见4.2.3，2010年版4.2.5）、温度与湿度均匀性检测（见4.2.4，2010年版4.2.6）、已装过滤系统检漏（见4.2.7，2010年版4.2.4）、隔离检漏（见4.2.8，2010年版4.2.10）、静电和离子发生器检测（见4.2.9，2010年版4.2.7）、粒子沉降检测（见4.2.10，2010年版4.2.8）； e) 增加了温度检测（见4.2.5）、湿度检测（见4.2.6）、偏析检测（见4.2.11）； f) 删除了空气悬浮粒子计数（见2010年版4.2.1）、自净检测（见2010年版4.2.9）； g) 删除了检测规程清单中的“属于洁净度分级和常规检测的空气悬浮粒子计数”“空气超微粒子计数”“空气大粒子计数”三个大项（见表A.1，2010年版表A.1）； h) 更改了检测规程清单中的“压差”“气流”“气流方向与显形检查”“自净”“温度”“湿度”“已装过滤器检漏”“隔离检漏”“静电和离子发生器”“粒子沉降”10个大项（见表A.1，2010年版表A.1）； i) 增加了“偏析检测”（见表A.1）； j) 增加了“检测和验证计划”（见A.3）； k) 删除了原附录B中“属于洁净度分级与常规检测的空气悬浮粒子计数”“空气超微粒子计数”“空气大粒子计数”“气流方向检测和显形检查”等检测方法； l) 更改了气流检测、自净检测、已装过滤器系统检漏、粒子沉降检测的检测方法（见附录B，2010年版附录B）； m) 删除了原附录C中“空气悬浮粒子计数”“超微粒子计数”和“大粒子计数”（见2010年版附录C）； n) 更改了气流检测、空气压差检测、已装过滤系统的检漏、气流方向检测和显形检查、温度检测、湿度检测、静电和离子发生器检测、粒子沉降检测、自净检测、隔离检漏（见附录C，2010年版附录C）。