国家标准计划《静电放电敏感度试验 传输线脉冲 器件级》由 TC599(全国集成电路标准化技术委员会)归口 ,主管部门为工业和信息化部(电子)。
主要起草单位 苏州泰思特电子科技有限公司 、中国电子技术标准化研究院 、北京智芯微电子科技有限公司 、华大半导体有限公司 、联合汽车电子有限公司等 。
| 31 电子学 |
| 31.080 半导体分立器件 |
本标准等同采用IEC国际标准:IEC 62615:2010。
采标中文名称:静电放电敏感度试验 传输线脉冲 器件级。
本标准的目的是定义一种脉冲试验方法,即传输线脉冲(TLP)试验,用于评估被测器件的电压电流响应,并考虑静电放电(ESD)人体模型(HBM)的保护设计参数。
本标准的范围和重点涉及半导体器件的TLP试验技术。
本标准建立TLP方法指南,以便在半导体器件上提取HBM ESD参数,提供了使用TLP正确提取HBM ESD参数的标准测量和程序。
采用这种标准方法、失效标准和报告方法,能够使半导体供应商、供应商和产品客户之间进行技术协商。
本标准旨在供电气技术人员、电气工程师、半导体工艺和设备工程师使用。
本标准定义一种脉冲试验方法,即传输线脉冲(TLP)试验,用于评估被测器件的电压电流响应,并考虑静电放电(ESD)人体模型(HBM)的保护设计参数。本标准的范围和重点涉及半导体器件的TLP试验技术。本标准建立TLP方法指南,以便在半导体器件上提取HBM ESD参数,提供了使用TLP正确提取HBM ESD参数的标准测量和程序。主要技术内容包括试验设备、TLP波形参数、试验要求和程序、失效判据以及TLP设计指南。