国家标准项目《半导体器件 机械与气候试验方法 第44部分：半导体器件的中子辐照单粒子效应（SEE）试验方法》由 TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口 ，主管部门为工业和信息化部（电子）。

主要起草单位 工业和信息化部电子第五研究所等 。

本标准等同采用IEC国际标准：IEC 60749-44 Ed1.0:2016。

采标中文名称:半导体器件 机械与气候试验方法 第44部分：半导体器件的中子辐照单粒子效应（SEE）试验方法。

标准详细说明了高密度集成的半导体器件大气中子辐射导致单粒子效应（SEE）的试验方法和程序。 本标准可测量在给定注量率中子辐射时半导体器件的单粒子效应敏感性。本测试方法适用于任何种类集成电路。 主要技术内容：包括术语和定义、试验装置（测试设备、辐射源、 试验样品）、中子辐射软错误测试程序（表面处理、电源电压、 环境温度、 核心周期、数据类模式、测量样品数量、射线所需时间计算）、 评估（测量与失效率评估、MCU和MBU截面确定、从截面确定器件FIT（事件概率））