国家标准《胶体体系 zeta电位测量方法 第2部分:光学法》 由TC168(全国颗粒表征与分检及筛网标准化技术委员会)归口 ,主管部门为国家标准委。
主要起草单位 上海市计量测试技术研究院 、中机生产力促进中心 、上海理工大学 、麦克默瑞提克(上海)仪器有限公司 、珠海真理光学仪器有限公司 、芜湖鼎恒材料技术有限公司 、中国计量大学 。
主要起草人 吴立敏 、厉艳君 、侯长革 、郝萍 、蔡小舒 、许人良 、张福根 、薛卫昌 、王蓉蓉 、朱培武 。
GB/T 32671.2-2019 现行
19 试验 |
19.120 粒度分析、筛分 |
本标准等同采用ISO国际标准:ISO 13099-2:2012。
采标中文名称:胶体体系 zeta电位测量方法 第2部分:光学法。