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国家标准《胶体体系 zeta电位测量方法 第2部分:光学法》 由TC168(全国颗粒表征与分检及筛网标准化技术委员会)归口 ,主管部门为国家标准化管理委员会

主要起草单位 上海市计量测试技术研究院中机生产力促进中心上海理工大学麦克默瑞提克(上海)仪器有限公司珠海真理光学仪器有限公司芜湖鼎恒材料技术有限公司中国计量大学

主要起草人 吴立敏厉艳君侯长革郝萍蔡小舒许人良张福根薛卫昌王蓉蓉朱培武

目录

标准状态

当前标准

GB/T 32671.2-2019 现行

胶体体系 zeta电位测量方法 第2部分:光学法

基础信息

标准号
GB/T 32671.2-2019
发布日期
2019-08-30
实施日期
2020-03-01
标准类别
方法
中国标准分类号
A19
国际标准分类号
19.120
19 试验
19.120 粒度分析、筛分
归口单位
全国颗粒表征与分检及筛网标准化技术委员会
执行单位
全国颗粒表征与分检及筛网标准化技术委员会
主管部门
国家标准化管理委员会

采标情况

本标准等同采用ISO国际标准:ISO 13099-2:2012。

采标中文名称:胶体体系 zeta电位测量方法 第2部分:光学法。

起草单位

起草人

吴立敏
厉艳君
蔡小舒
许人良
王蓉蓉
朱培武
侯长革
郝萍
张福根
薛卫昌

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