国家标准《无损检测 射线照相检测图像质量 第2部分:阶梯孔型像质计像质值的测定》 由TC56(全国无损检测标准化技术委员会)归口 ,主管部门为国家标准委。
主要起草单位 上海空间推进研究所 、上海航天动力科技工程有限公司 、上海材料研究所 、浙江省缙云像质计厂 、湖北三江航天江北机械工程有限公司 、矩阵科工检测技术(北京)有限公司 、上海航天精密机械研究所 、上海卫星装备研究所 、上海航天设备制造总厂有限公司 、四川航天川南火工技术有限公司 、中广核工程有限公司 、上海飞天众知科技有限公司 、浙江省特种设备检验研究院 、航天材料及工艺研究所 、中信戴卡股份有限公司 、中国科学院声学研究所东海研究站 、宁波市特种设备检验研究院 、上海航天控制技术研究所 、艾因蒂克检测科技(上海)股份有限公司 。
主要起草人 陈亦维 、徐国珍 、蒋建生 、丁杰 、柳章龙 、王晓勇 、江运喜 、周建平 、危荃 、孙建罡 、徐薇 、张政 、朱从斌 、王道龙 、黄文大 、吕延达 、袁生平 、刘军 、胡玲 、陈虎 、袁支佐 、张瑞 、张义凤 、翟莲娜 、马君 。
GB/T 23901.2-2009 (全部代替)
GB/T 23901.2-2019 现行
19 试验 |
19.100 无损检测 |
本标准等同采用ISO国际标准:ISO 19232-2:2013。
采标中文名称:无损检测 射线照相检测图像质量 第2部分:阶梯孔型像质计像质值的测定。