国家标准项目《纳米技术 表面增强拉曼固相基片均匀性测定 拉曼成像法》由 TC279（全国纳米技术标准化技术委员会）归口 ，主管部门为中国科学院。

主要起草单位 苏州天际创新纳米技术有限公司 、中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所 、苏州大学等 。

范围：[t3]本标准规定了SERS基片均匀性的拉曼成像测定方法。 主要内容：[t4]利用拉曼光谱的成像分析技术，在SERS基片表面获取若干不同位置的光谱信息，采用统计的方法得出这些位置增强能力的分布，推算此种基片在所选区域内的均匀性。同时给出不同质量基片对应的均匀性参考范围。