国家标准《非易失性存储器耐久和数据保持试验方法》 由TC599（全国集成电路标准化技术委员会）归口 ，主管部门为工业和信息化部（电子）。

主要起草单位 中国电子技术标准化研究院 、上海复旦微电子集团股份有限公司 、中国电子科技集团公司第五十八研究所 、北京兆易创新科技股份有限公司 、深圳市国微电子有限公司 、成都华微电子科技有限公司 。

主要起草人 罗晓羽 、董艺 、郭晓宇 、高硕 、刘妙 、谢休华 。