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国家标准《电子学特性测量 超导体在微波频率下的表面电阻》 由TC265(全国超导标准化技术委员会)归口 ,主管部门为中国科学院

主要起草单位 电子科技大学清华大学南京大学中国科学院物理研究所

主要起草人 曾成罗正祥补世荣魏斌吉争鸣孙亮

目录

标准状态

代替了以下标准

GB/T 22586-2008 (全部代替)

高温超导薄膜微波表面电阻测试
当前标准

GB/T 22586-2018 现行

电子学特性测量 超导体在微波频率下的表面电阻

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基础信息

标准号
GB/T 22586-2018
发布日期
2018-03-15
实施日期
2018-10-01
全部代替标准
GB/T 22586-2008
标准类别
方法
中国标准分类号
H21
国际标准分类号
77.040.99
77 冶金
77.040 金属材料试验
77.040.99 金属材料的其他试验方法
归口单位
全国超导标准化技术委员会
执行单位
全国超导标准化技术委员会
主管部门
中国科学院

采标情况

本标准修改采用IEC国际标准:IEC 61788-7:2006。

采标中文名称:超导电性 第7部分:电子学特性测量 超导体在微波频率下的表面电阻。

起草单位

起草人

曾成
罗正祥
吉争鸣
孙亮
补世荣
魏斌

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