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国家标准《光学和光子学 光学薄膜 第4部分:规定的试验方法》 由604-1(中国机械工业联合会)归口,TC103SC5(全国光学和光子学标准化技术委员会光学材料和元件分会)执行 ,主管部门为中国机械工业联合会

主要起草单位 沈阳仪表科学研究院有限公司同济大学浙江大学大连化学物理研究所沈阳汇博光学公司杭州科汀光学技术有限公司国家仪器仪表元器件质量监督检验中心

主要起草人 王瑞生费书国阴晓俊王占山程鑫彬赵帅锋等

目录

标准状态

当前标准

GB/T 26332.4-2015 现行

光学和光子学 光学薄膜 第4部分:规定的试验方法
修订计划

20242308-T-604 正在起草

光学和光子学 光学薄膜 第4部分:规定的试验方法

基础信息

标准号
GB/T 26332.4-2015
发布日期
2015-12-10
实施日期
2016-07-01
标准类别
方法
中国标准分类号
N30
国际标准分类号
17.180
17 计量学和测量、物理现象
17.180 光学和光学测量
归口单位
中国机械工业联合会
执行单位
全国光学和光子学标准化技术委员会光学材料和元件分会
主管部门
中国机械工业联合会

采标情况

本标准等同采用ISO国际标准:ISO 9211-4:2012。

采标中文名称:光学和光子学 光学薄膜 第4部分:规定的试验方法。

起草单位

起草人

王瑞生
费书国
程鑫彬
赵帅锋
阴晓俊
王占山

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