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国家标准《金属氧化物半导体气敏元件测试方法》由339-1（工业和信息化部（电子））归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。

主要起草单位电子工业部标准化研究所。

目录

标准状态

当前标准

GB/T 15653-1995 现行

金属氧化物半导体气敏元件测试方法

基础信息

标准号: GB/T 15653-1995
发布日期: 1995-07-24
实施日期: 1996-04-01
上次复审日期: 2016-12-31
上次复审结论: 继续有效

标准类别

方法

中国标准分类号

L15

国际标准分类号

31.020

31 电子学

31.020 电子元器件综合

归口单位

工业和信息化部（电子）

执行单位

工业和信息化部（电子）

主管部门

工业和信息化部（电子）

起草单位

电子工业部标准化研究所

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