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半导体集成电路 微处理器及外围接口电路电参数测试方法的基本原理

Generalprinciple of measuring methods of microprocessors and peripheral interface circuits’ parameters for semiconductor integrated circuits
国家标准 推荐性 废止

国家标准《半导体集成电路 微处理器及外围接口电路电参数测试方法的基本原理》 由TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口 ，主管部门为工业和信息化部（电子）。

主要起草单位 北京机械自动化所 。

目录

标准状态

  1. 发布
  2. 实施
  3. 废止
当前标准

GB/T 12843-1991 废止

半导体集成电路 微处理器及外围接口电路电参数测试方法的基本原理

基础信息

标准号
GB/T 12843-1991
发布日期
1991-04-28
实施日期
1991-12-01
废止日期
2004-10-14
上次复审日期
2004-10-14
上次复审结论
废止
标准类别
方法
中国标准分类号
L55
国际标准分类号
31.200
31 电子学
31.200 集成电路、微电子学
归口单位
全国半导体器件标准化技术委员会
执行单位
全国半导体器件标准化技术委员会
主管部门
工业和信息化部（电子）

起草单位

北京机械自动化所

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