国家标准计划《半导体集成电路 霍尔电路测试方法》由 TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口，TC78SC2（全国半导体器件标准化技术委员会半导体集成电路分会）执行 ，主管部门为工业和信息化部（电子）。

主要起草单位 中国电子技术标准化研究院 。

现阶段半导体集成电路发展迅速，一方面，目前测试设备和测试相关性、可靠性、精确性提出了更高的要求，使测试结果易受测试环境的影响；另一方面，通过对国内半导体集成电路测试标准的调研，目前国内标准相对滞后，目前我们查询到的GB/T 17574半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路,GB/T 17940 半导体器件 集成电路 第3部分:模拟集成电路，均不包含霍尔电路的特性参数测试。

通过该标准的研制，可以弥补该类器件测试的空白，统一各研制单位的测试方法，保障器件的电特性指标的准确性。

范围和主要技术内容 本规范规定了半导体集成电路霍尔电路功能和其它参数的测试方法，主要规定了测试环境要求、导通磁场、截止磁场、回差等电特性参数的测试目的、测试条件和测试程序。

2017YFF0208200 国家质量基础的共性技术研究与应用