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国家标准项目《处理器器件单粒子试验设计与程序》由 TC425(全国宇航技术及其应用标准化技术委员会)归口,TC425SC2(全国宇航技术及其应用标准化技术委员会宇航电子分会)执行 ,主管部门为国家标准委

主要起草单位 中国航天科技集团公司第九研究院第七七一研究所

目录

基础信息

20184440-T-469
制修订
制定
项目周期
24个月
2018-12-29
公示开始日期
2018-07-26
公示截止日期
2018-08-10
标准类别
方法
国际标准分类号
31.200
31 电子学
31.200 集成电路、微电子学
归口单位
全国宇航技术及其应用标准化技术委员会
执行单位
全国宇航技术及其应用标准化技术委员会宇航电子分会
主管部门
国家标准委

起草单位

范围和主要技术内容

主要研究处理器类器件单粒子效应试验的一般方法和要求,用于规范处理器类器件单粒子试验的软硬件设计及试验程序,确保试验顺利进行,试验结果可靠且被统一认可,研究内容主要包括: 1)系统供电设计:根据试验场所限制,设计便捷高效的单粒子试验系统供电方案; 2)硬件设计:根据试验场所限制,设计安全可靠的针对处理器的单粒子试验板; 3)软件设计:设计监控端软件方案和处理器器件的软件方案,可有效反应器件的抗辐照能力; 4)选择样品和分析试验结果:选择符合试验要求的样品,根据试验目的选择样品数量;分析试验数据,对抗辐照指标作出有效评估。